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      晶硅電池隱裂檢測

      主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

      產品型號:LPsolar-SC100


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      技術參數
      產能 ≥3600片/小時
      最高檢測精度 150μm
      設備有效時間 99%
      破片率 <0.05%(傳輸剔除)
      重復性 99.85%
      電壓 220V AV
      功率 ≤1000W
      產品優勢
      • 一體化隱裂碎片檢測模塊
      • 全定制光學系統(售價更低,性能更好)
      • 高效AI算法(算法時間100ms以內)
      缺陷圖例
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